深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司

主要探針臺(tái)產(chǎn)品包括：半自動(dòng)探針臺(tái)，真空探針臺(tái)，太赫茲探針臺(tái)，硅光探針臺(tái)，高低...

公司簡(jiǎn)介

     深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司，品牌：GBITEST。 致力于為用戶(hù)提供精密的半導(dǎo)體晶圓級(jí)在片測(cè)試探針臺(tái)系統(tǒng)和射頻微波器件測(cè)量系統(tǒng)，微組裝封裝工藝檢測(cè)系統(tǒng)以、失效分析系統(tǒng)以及材料測(cè)試等系統(tǒng)集成方案。特別是我們提供的探針臺(tái)在片系統(tǒng)，已被全球客戶(hù)廣泛地應(yīng)用于I-V／C-V測(cè)試，脈沖I-V測(cè)試，RF/mmW測(cè)試，高壓、大電流測(cè)試，MEMS、芯片光耦合，光電器件測(cè)量、射頻校準(zhǔn)、晶圓級(jí)失效分析、霍爾測(cè)試、CP測(cè)試等解決方案中。主要探針臺(tái)產(chǎn)品包括：半自...
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主營(yíng)產(chǎn)品

主要探針臺(tái)產(chǎn)品包括：半自動(dòng)探針臺(tái)，真空探針臺(tái)，太赫茲探針臺(tái)，硅光探針臺(tái)，高低溫探針臺(tái)，微光顯微鏡，超低溫探針臺(tái)，光電探針臺(tái)，輻照探針臺(tái)，射頻探針臺(tái)，全自動(dòng)探針臺(tái)，手動(dòng)探針臺(tái)等。

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公司名稱(chēng)： 深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司
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