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4001027270
高、低溫探針卡的測試環(huán)境苛刻,針卡局部溫度變化大,DGT公司經過30多年的經驗積累,解決了高、低溫探針卡在晶圓測試中的形變、針尖水平度差異大的問題。
產品特點:
高、低溫測試(-40--150℃)
ReW/OC材質
平整度高
多Sites同測
公司概況
深圳市道格特科技有限公司(DGT),位于科技企業(yè)林立、中國改革開放第一市——深圳市。
深圳市道格特科技有限公司(DGT)專注于半導體晶圓(IC)測試、LCD屏測試、DRAM測試等測試用探針卡等測試用探針卡(Probe Card)設計、制造、維護,晶圓探針、LED點
測針的銷售。
技術實力
DGT公司通過吸收美國和日本探針卡(Probe Card)制造技術,發(fā)揮自身自動設備研發(fā)的專長,研發(fā)出更高精度、自動化、一體化的生產設備,在此基礎上公司可生產最小壓點
(Pad)尺寸15×30μm,壓點中心(Gap)最小間距20μm,多芯同測(128Sites),放針可達12層,單針卡制造技術已達5000Pins,單針滿足大電流達2A以上,低漏電0.1pA
以內,測試溫度范圍-40℃--+150℃,高頻超過2GHz以上,超大電流、大電壓(200A、6500V)等不同測試要求的探針卡,廣泛應用于國內、外各種高端測試平臺。
經營策略
以科技為向導、質量為基礎,高效快速滿足客戶需要。
公司定位
為客戶提供專業(yè)的測試界面解決方案。
公司理念
專業(yè)、精準、高效
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