網站首頁

中|EN

當前位置: 首頁 » 設備館 » 半導體測試設備 » 其他測試設備類 »JCI-155v6靜電衰減分析儀
    •
    包郵 關注:257

    JCI-155v6靜電衰減分析儀

    應用于半導體行業(yè)：

    半導體測試設備-其他測試設備類

    產品品牌

    JCI

    規(guī)格型號：

    JCI155V6

    發(fā)貨期限：

    3天內天

    庫       存：

    10000

    產       地：

    中國-廣東省

    數       量：

    減少 增加

    價       格：

    面議
    交易保障 擔保交易 網銀支付

    品牌：JCI

    型號：JCI155V6

    所屬系列：半導體測試設備-其他測試設備類

     JCI-155v6靜電衰減分析儀
     

    英文名稱 ： Electrostatic Charge Decay Time Analyser
    產品描述 ： 電暈放電法測試靜電衰減期
    產品品牌 ： JCI
    產品產地 ： 英國
    訂購貨號 ： JCI155v6

    • 美國國家航空和宇宙航行局（NASA）指定采用產品

    • IEC61340-2-1標準規(guī)范的模板設備

    • 可以測試固體，粉體，液體材料的靜電衰減時間

    • 同時測試靜電衰減時間和電容負載

    • 可直接放置在成型材料上測試

    • 量程：10毫秒-99小時

    • 分辨率：10毫秒

    • 電暈放電電壓：0-9.9KV（可以選擇正負極性）

    • 衰減比例：可設置1%-99%

    • 同時測量環(huán)境溫濕度

    • 特別設計氣閘效應，消除殘留空氣離子干擾

    • 高精度靜電壓測試探頭

    • 配套JCI176樣品臺可測量轉移到測試料樣上的電量，并計算出電容負載

    • 配套JCI173樣品杯可以測量粉體和液體的靜電衰減期

    • 配套JCI-Graph軟件遠端控制儀器，顯示數據和衰減曲線，形成報告，分析/打印/儲存數據。

     JCI155v6：包含以下物品

    靜電衰減分析儀

    JCI176試樣臺（放置試樣，并測試電容負載）

    JCI173試樣杯（放置粉體或液體材料）

    測試儀和試樣臺連接線纜

    接地線

    長USB數據線（用于連接電腦）

    短USB數據線（用于外接U盤）

    配套軟件

    咨詢

    購買之前，如有問題，請向我們咨詢

    提問:
     

    應用于半導體行業(yè)的相關同類產品：

    服務熱線

    4001027270

    功能和特性

    價格和優(yōu)惠

    微信公眾號