*平行平晶是以光波干涉原理為基礎,利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。
*平行平晶具有高精度的平面性和平行性。
*平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶共分四個系列,每個系列各分六組,每組四塊。
功能:平行平晶用于干涉法測量千分尺、卡規(guī)和千分表等測量面平面度、平面平行度。
產品規(guī)格:
每組平行平晶共四塊,分四個尺寸系列組
測量面上平面度偏差: <0.1μm
平面度局部偏差: >0.03μm
測量面平行度誤差: 組Ⅰ系列允差值:0.06μm
組Ⅱ、Ⅲ系列允差值:0.08μm
組Ⅳ系列允差值:0.1μm
組Ⅰ
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平行平晶
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0-25mm
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4塊/組
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組Ⅱ
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平行平晶
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25-50mm
|
4塊/組
|
組Ⅲ
|
平行平晶
|
50-75mm
|
4塊/組
|
組Ⅳ
|
平行平晶
|
75-100mm
|
4塊/組
|
平行平晶尺寸系列表
組號
|
0-25
|
25-50
|
50-75
|
75-100
|
1
|
15.00,15.12
15.25,15.39
|
40.00,40.12
40.25,40.37
|
65.00,65.12
65.25,65.37
|
90.00,90.12
90.25,90.37
|
2
|
15.12,15.25
15.37,15.50
|
40.12,40.25
40.37,40.50
|
65.12,65.25
65.37,65.50
|
90.12,90.25
90.37,90.50
|
3
|
15.25,15.37
15.50,15.62
|
40.25,40.37
40.50,40.62
|
65.25,65.37
65.50,65.62
|
90.25,90.37
90.50,90.62
|
4
|
15.37,15.50
15.62,15.75
|
40.37,40.50
40.62,40.75
|
65.37,65.50
65.62,65.75
|
90.37,90.50
90.62,90.75
|
5
|
15.50,15.62
15.75,15.87
|
40.50,40.62
40.75,40.87
|
65.50,65.62
65.75,65.87
|
90.50,90.62
90.75,90.87
|
6
|
15.62,15.75
15.87,16.00
|
40.62,40.75
40.87,41.00
|
65.62,65.75
65.87,66.00
|
90.62,90.75
90.87,91.00
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