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    I-V曲線跟蹤儀開短路測(cè)試電流電壓異常定位

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè):

    半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備-其他測(cè)試設(shè)備類

    庫       存:

    100

    產(chǎn)       地:

    全國

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價(jià)       格:

    面議
    交易保障 擔(dān)保交易 網(wǎng)銀支付
     

    I-V曲線跟蹤儀

    主要用途

    驗(yàn)證及量測(cè)半導(dǎo)體電子組件之電性 參數(shù)及特性,比如電壓-電流、電容-電壓特性曲線,
     
    u
    性能參數(shù)
    a)512 channel的測(cè)試通道;
    b)Force范圍:電壓:0~7V ;電流:0~500mA
    c)量測(cè)范圍:電壓:0~10V ;電流:0~500mA
    d)測(cè)量精度:電壓:1mV ;電流:10nA;
     
    u
     
    應(yīng)用范圍
    1.極低的漏電流測(cè)量(例如 光二極管或太陽能電池的暗電流測(cè)量);
    2.CMOS,雙極性組件,BiCMOS IC 的半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)量;
    3.開/短路試驗(yàn)。

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