+ 可升級(jí)到MFM、接觸式/半接觸式/非接觸模式AFM、導(dǎo)電AFM、EFM、共聚焦顯微鏡、SNOM和STM
+ 5X5X5mm粗定位范圍,4K
+ 30umX30um掃描范圍,4K
+ 變溫范圍:mK - 373K
+ 兼容強(qiáng)磁場(chǎng):可達(dá)15Tesla
+ 兼容1"和2"孔徑的磁體與恒溫器,如Quantum Design-PPMS系統(tǒng)
+ 極其緊湊和可靠SHPM掃描頭設(shè)計(jì)
+ 定量和非破壞性磁性測(cè)量,mK溫度
+ 閉環(huán)式掃描模式
+ 用于超導(dǎo)體的vortex分布與定扎測(cè)量
+ 磁性顆粒的局域場(chǎng)測(cè)量
+ 磁化率和磁滯回線測(cè)量
+ 超導(dǎo)、磁疇、材料科學(xué)研究
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+ 利用STM原理/音叉模式探測(cè)樣品與探針之間的距離
+ 樣品定位范圍:5 X 5 X 5mm,4K
+ 樣品位移步長:0.05 -3um @ 300K, 10 -500nm @ 4K
+ 掃描范圍:40x40 um @300K;30x30 um @4K
+ 磁場(chǎng)強(qiáng)度: 0 -15Tesla (取決于磁體)
+ 變溫范圍:mK - 300K (取決于恒溫器)
+ 工作真空環(huán)境:1X10-6mbar - 1bar(He交換氣氛)
+SHPM探針:MBE生長的GaAs/AlGaAs異質(zhì)結(jié)
+ 分辨率:250nm超高分辨
+ z bit分辨率,300K :0.065nm,4.3um掃描范圍
+ 側(cè)向(xy)bit分辨率,4K:0.18nm,12um掃描范圍
+ z bit分辨率,4K:0.030nm,2um掃描范圍
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