可以在高低溫、寬頻、真空條件下測量固體、薄膜樣品的介電性能;
■可以分析樣品的頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、時間譜等測量功能;
■可以測量樣品的介電常數、介電損耗,電容C,損耗D,電感L,品質因數Q,阻抗Z等物理量;
■可以實現介電常數和介電損耗隨多個溫度、多個頻率變化的曲線,時間和電壓變化的曲線;
■集多種測量功能于一體高溫測量平臺,配合高阻表可以測量高溫電阻和熱激勵電流(選件);
■符合ASTMD150和 D2149-97國際標準,同時也符合GB/T1409-2006介電常數和介電損耗的推薦方法。