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    TM/50M研究級正置金相顯微鏡

    應用于半導體行業(yè):

    半導體測試設備-顯微鏡分類-金相顯微鏡

    庫       存:

    99

    產       地:

    全國

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價       格:

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    品牌:

    型號:

    所屬系列:半導體測試設備-顯微鏡分類-金相顯微鏡

     原理:金相顯微鏡系統(tǒng)是將傳統(tǒng)的光學顯微鏡與計算機(數(shù)碼相機)通過光電轉換有機的結合在一起,不僅可以在目鏡上作顯微觀察,還能在計算機(數(shù)碼相機)顯示屏幕上觀察實時動態(tài)圖像,電腦型金相顯微鏡并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。

    應用范圍:適用于工礦企業(yè)、高等院校及科研等機構作材料內部組織結構分析。

    產品特點:

    全新TM/50M 系列觀察筒,采用寬光束成像系統(tǒng)設計,支持26.5mm 世界領先的超寬視野觀察,帶給您全新的大視野體驗。兩檔式正像鉸鏈三目觀察筒,保證樣品的移動方向與您通過目鏡觀察到的方向一致,使操作更加得心應手。

    偏振系統(tǒng)

    偏振系統(tǒng)包括起偏器和檢偏器,可做偏光檢測,在半導體和PCB 檢測中,可消除雜光,細節(jié)更清楚。檢偏器分為固定式檢偏器和360 度旋轉式檢偏器。360°旋轉式檢偏器可在不移動標本的情況下,方便的觀察標本在不同偏振角度光線下呈現(xiàn)的狀態(tài)??稍谄裣到y(tǒng)的基礎上加載舜宇全新研發(fā)微分干涉器,建立諾曼爾斯基微分干涉襯比系統(tǒng)。

    諾曼爾斯基微分干涉襯比系統(tǒng)(選配)

    全新研發(fā)的U-DICR 微分干涉組件,可以將明場觀察下無法檢測的細微高低差,轉化為高對比度的明暗差并以立體浮雕形式表現(xiàn)出來,如LCD 導電粒子,精密磁盤表面劃痕等。

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