系統(tǒng)概述
交流阻斷(或反偏)耐久性試驗是在一定溫度下,對半導(dǎo)體器件施加阻斷(或反偏)電壓,按照規(guī)定的時間,從而對器件進(jìn)行質(zhì)量檢驗和耐久性評估的一種主要試驗方法。
一般情況下,此項試驗是對器件在結(jié)溫(Tjm ℃)和規(guī)定的 交流阻斷電壓或反向偏置電壓的兩應(yīng)力組合下,進(jìn)行規(guī)定時間的 試驗,并根據(jù)抽樣理論和失效判定依據(jù),確認(rèn)是否通過, 同時獲取相關(guān)試驗數(shù)據(jù)。
該系統(tǒng)符合MIL-STD-750D METHOD-1038.3、GJB128、 JEDEC標(biāo)準(zhǔn)試驗要求??晒┌雽?dǎo)體器件配以適當(dāng)?shù)臏囟瓤煽匮b置, 作交流阻斷(或反偏)耐久性/ 篩選試驗。能滿足IGBT進(jìn)行高溫反偏耐久性試驗、高溫漏電流測試(HTIR)和老煉篩選。