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    模塊高溫阻斷試驗設備

    應用于半導體行業(yè):

    半導體測試設備-其他測試設備類

    產(chǎn)品品牌

    西安智盈科技

    規(guī)格型號:

    DBC-249-6

    庫       存:

    10

    產(chǎn)       地:

    中國-陜西省

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價       格:

    面議
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    品牌:西安智盈科技

    型號:DBC-249-6

    所屬系列:半導體測試設備-其他測試設備類

     系統(tǒng)概述

    交流阻斷(或反偏)耐久性試驗是在一定溫度下,對半導體器件施加阻斷(或反偏)電壓,按照規(guī)定的時間,從而對器件進行質量檢驗和耐久性評估的一種主要試驗方法。

    一般情況下,此項試驗是對器件在結溫(Tjm ℃)和規(guī)定的 交流阻斷電壓或反向偏置電壓的兩應力組合下,進行規(guī)定時間的 試驗,并根據(jù)抽樣理論和失效判定依據(jù),確認是否通過, 同時獲取相關試驗數(shù)據(jù)。

    該系統(tǒng)符合MIL-STD-750D METHOD-1038.3、GJB128、 JEDEC標準試驗要求??晒┌雽w器件配以適當?shù)臏囟瓤煽匮b置, 作交流阻斷(或反偏)耐久性/ 篩選試驗。能滿足IGBT進行高溫反偏耐久性試驗、高溫漏電流測試(HTIR)和老煉篩選。

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