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XRD X射線衍射儀

發(fā)表于:2017-02-15  作者:863test  關(guān)注度:246

X射線衍射儀(XRD)

 

利用X射線衍射原理,精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)及應(yīng)力,進(jìn)行定性和定量的物相分析,配有平行光路,可以進(jìn)行表面相分析,對薄膜的結(jié)構(gòu)進(jìn)行表征,還配有高溫樣品臺(室溫~1200℃),可以對樣品在不同溫度下的相變進(jìn)行表征,利用X射線全反射方法還可以測量薄膜的厚度。

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