什么是失效分析，為什么需要失效分析
發(fā)表于：2018-06-26 作者：ceshi 關(guān)注度：221
失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。2018年失效分析技術(shù)分享活動(dòng)，儀準(zhǔn)科技自2012年在北京建立以來，一直受到半導(dǎo)體行業(yè)內(nèi)同行們的支持與鼓勵(lì)，這6年來，有贊美，有夸獎(jiǎng)，有磕絆，也有不足；感謝大家一直以來的包容與支持，同行們之間的反饋與意見是我們進(jìn)步的較大推動(dòng)力。失效分析與預(yù)防 失效分析的意義。
我們也一直在半導(dǎo)體行業(yè)中努力吸收新鮮知識(shí)，緊跟行業(yè)潮流，完善公司設(shè)備及技術(shù)要求，盡我們的較大努力，去達(dá)到實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
端午佳節(jié)到來之際，儀準(zhǔn)科技特此推出2018年年中的優(yōu)惠活動(dòng)，以此來回饋新老顧客對(duì)我們的支持。
它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開發(fā)、改進(jìn)，產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。其方法分為有損分析，無損分析，物理分析，化學(xué)分析等。
集成電路失效分析流程中，I/V CURVE的量測往往是非破壞分析的第二步(外觀檢查排在第一步)，可見curve量測的重要性。隨著器件的pin腳數(shù)越來越多，傳統(tǒng)的curve tracer(多為手動(dòng))沒有辦法滿足時(shí)效的需求。Advanced推出的smart-1 auto curve tracer很好的滿足了客戶的需求，尤其是在BGA等通訊產(chǎn)品方面，具備安捷倫B1500和keithely4200無可比擬的便利性。國內(nèi)知名客戶有：上海宜碩、深圳宜智發(fā)、華為、珠海炬力、蘇州瑞薩、蘇州三星、東莞三星、SMIC、天水華天、無錫安盛、深圳沛頓、華測檢測等等
失效分析與預(yù)防 失效分析的意義
IV自動(dòng)曲線量測儀主要參數(shù)：
1. 高分辨率之I/V量測范圍,Voltage Measure Range可達(dá) 200mV ~ 200V（需搭配keithly 2400）， Current Measure Range可達(dá)1uA ~ 1A，且測試Channel可從 64 pin逐步擴(kuò)充至Max.4096 pin，以滿足客戶多元化之產(chǎn)品測試需求。
2. 機(jī)臺(tái)主要測試功能，包括:Open/Short Test、I/V Curve Analysis、Idd Measuring、Powered Leakage (漏電) Test
激光開封機(jī)參數(shù)應(yīng)用范圍
ADVANCED儀準(zhǔn)科技自主研發(fā)生產(chǎn)
型號(hào)PST-2000
性能參數(shù)
激光平均輸出功率：10W
激光波長：1060nm
激光重復(fù)頻率：20KHz-100KHz
開封范圍：100mm x 100mm
開封深度：0.4mm
重復(fù)精度：±0.003mm
應(yīng)用范圍
主要應(yīng)用在銅綁定線，鋁綁定線及COB等特殊類封裝的開帽分析
實(shí)驗(yàn)室實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目:
半導(dǎo)體失效分析及可靠度測試領(lǐng)域
* Probe station（手動(dòng)分析探針檯）
* Auto curve tracer(I/V曲線量測儀）
* IC開封（激光或者酸）
* EMMI SYSTEM（光發(fā)射顯微鏡分析）
* EDX檢測分析RoHS中有害元素
* Burn-In、THB、HAST TCT、PCT etc.(可靠度試驗(yàn)設(shè)備及相關(guān)老化板)
* RIE器件表面圖形刻蝕
* FIB金屬線的切割和連接
微型切片和TEM樣片制成
* 靜電測試元器件防靜電等級(jí)
* POLO去層（銅制程，金屬層，絕緣層，保護(hù)層）
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