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    包郵 關(guān)注:1305

    間歇壽命試驗系統(tǒng)（IOL)

    產(chǎn)品品牌

    杭州高坤電子

    庫       存：

    1

    產(chǎn)       地：

    中國-浙江省

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

    面議
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    品牌：杭州高坤電子

    型號：

    所屬系列：半導體測試設(shè)備-壽命測試設(shè)備-其他老化設(shè)備

           ★符合標準：

    符合MIL-STD-750、GJB128、IEC、AEC-Q101等試驗標準要求。

    ★適用范圍：

    適用于各種封裝形式的二極管、三極管、MOSFET、IGBT等器

    件的間歇壽命試驗和穩(wěn)態(tài)壽命試驗。

    ★技術(shù)特點：

    ①在試驗過程中實時測量樣品的結(jié)溫，并顯示結(jié)溫差；

    ②采用模塊化設(shè)計，每個模塊是一個獨立試驗單元，有獨立的

    試驗腔體，真正做到板與板之間完全獨立，每個試驗單元的風

    道互不影響；

    ③在調(diào)試模式下，無論是開通狀態(tài)還是關(guān)斷狀態(tài)下，均可以每隔

    一秒采集一次結(jié)溫Tj，描繪出完整的溫度變化曲線，可以防止在

    尋找試驗條件時損壞器件；

    ④三極管采用共基極試驗線路，更能滿足宇航級產(chǎn)品的試驗要求；

    ⑤設(shè)備可選配K系數(shù)測試裝置。

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