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    包郵 關(guān)注:764

    HITACHI POWER SOLUTIONS 超音波檢查 SAT(Scanning Acoustic Tomograph)

    庫(kù)       存:

    1000

    產(chǎn)       地:

    中國(guó)-江蘇省

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價(jià)       格:

    面議
    交易保障 擔(dān)保交易 網(wǎng)銀支付

    應(yīng)用范圍:

    檢查IC封裝及電子部品內(nèi)部的剝離,裂痕,空隙等缺陷。

    特性:

    高品質(zhì)(Fine):
    最新開(kāi)發(fā)500MHz超音波探傷儀,大富提高影像品質(zhì),高精密度掃瞄,可產(chǎn)生0.5um 解析度圖形17500 x 7500。

    快速(Fast):
    掃瞄機(jī)速度高達(dá)1000mm/sec,較傳統(tǒng)增加67%, 搭配加大掃瞄區(qū)域,增加其單位處理量。

    彈性(Flexible):
    配合各種需求可搭配各式探頭(Probe),提供更強(qiáng)的客制功能與使用的方便性。

     

    產(chǎn)品功能:

    立體傾斜式掃瞄(S-Image,日立專(zhuān)利)
    幫助更容易取得焦點(diǎn)位置。

    多重影像、參數(shù)儲(chǔ)存(Image Index,日立專(zhuān)利):
    所有參數(shù)可以與影像同時(shí)儲(chǔ)存,對(duì)于類(lèi)似待測(cè)物(Sample)可迅速取得影像。

    自動(dòng)多層掃瞄(Multi-gate Image):
    在既定的高度,可取得多達(dá)64層影像。
    完整的探頭(Probe)組合。


     

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    服務(wù)熱線

    4001027270

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