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    立德愛博LD615-01 CMOS圖像傳感器自動測試機

    應用于半導體行業(yè)：

    半導體測試設備-壽命測試設備

    庫       存：

    10000

    產(chǎn)       地：

    中國-廣西

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

    面議
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    品牌：

    型號：

    所屬系列：半導體測試設備-壽命測試設備

     

    立德愛博LD615-01 CMOS圖像傳感器自動測試機

    LD615-01 自動測試機機械特性:

    ★  LCC、PBGA、CSP等封裝CMOS圖像傳感器測試的理想選擇。

    ★  吸頭運動方向均采用由計算機控制的伺服電機系統(tǒng)，精密絲桿傳動，動作靈活、定位準確、速度快。

    ★  采用圖像識別和自動定位技術，自動完成所有取放片動作。

    ★  采用5工位獨立同時測試，有效提高測試效率；

    ★  采用最短連接測試方式，有效保證測試準確性；

    ★  可支持多種Tray，以及JEDEC Tray，并可分成最多30PIN（根據(jù)芯片而定）。

    ★  優(yōu)越的結構設計，采用計算機控制，全中文操作界面，更精確，方便的操作。

    ★  可適應各種封裝形式的CMOS圖像傳感器器件測試。

    ★  可兼容LCC 、PBGA、CSP封裝形式IC及指紋IC等器件電性測試。

    立德愛博LD615-01自動測試機規(guī)格參數(shù)

    1.系統(tǒng)功能

    測試方式

    5顆獨立

    放片精度

    X 、Y  +50um

    生產(chǎn)速度

    ≥單顆測試時間/5+100ms

    壓力范圍

    30～ 150gf

    適用Tray

    2、3、4及JEDEC Tray

    適應吸嘴

    橡膠

    拾晶方式

    擺臂方式

    分PIN數(shù)

    最多30PIN（視IC定）

    2.上料 XY工作臺

    芯片

    Tray種類

    2、3、4 Tray及JEDEC Tray

    芯片類型

    常用CMOS圖像傳感器封裝

    工作臺

    最大行程

    4*JEDEC Tray

    分辯率

    0.02mil(0.5μm)

    重復率

    ±0.02mil(±0.5μm)

     

     

    3.圖像識別系統(tǒng)

    圖像識別

    256級灰度

    分辯率

    640×480像素

    圖像識別精度

    0.025mil@50mil規(guī)測范圍

    4.測試臺

    放置檢測

    視覺檢測

    5.Tray 裝載

    LOADER裝載

    手動

    6.機臺體積及重量

    長*寬*高

    1450x1400x1800mm

    重量

    約800KG

    7.運行要求

    電壓

    AC-220V

    頻率

    50Hz

    壓縮空氣

    0.4~0.6Mpa

    真空負壓

    ≤80Kpa

    功率消耗

    800W

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