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    奧地利E+E EE355系列 露點(diǎn)儀

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)：

    半導(dǎo)體器件-其他器件類

    庫       存：

    9999

    產(chǎn)       地：

    全國

    數(shù)       量：

    減少 增加

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    品牌：

    型號：

    所屬系列：半導(dǎo)體器件-其他器件類

     奧地利E+E EE355系列 露點(diǎn)儀

                           § 多參數(shù)：露點(diǎn)/霜點(diǎn)/體積濃度ppm

                           § 量程：-60～60℃

                           § 精度：±2℃

                           § 輸出：4～20mA，Modbus

                           § 配送：DCS74氣體采樣器

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