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    小型高溫反偏試驗系統(tǒng)HTRB

    應用于半導體行業(yè)：

    半導體測試設備-壽命測試設備-老化箱

    產(chǎn)品品牌

    蘇州安而森

    庫       存：

    2

    產(chǎn)       地：

    中國

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

    ￥15.00
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    品牌：蘇州安而森

    型號：

    所屬系列：半導體測試設備-壽命測試設備-老化箱

           1.1 名稱：小型高溫反偏試驗系統(tǒng)

    1.2 設備型號：AS-HTRB-C8

    1.3 內(nèi)箱尺寸W×H×D mm：450×450×450

    外箱尺寸W×H×D mm：720×1620×1320

    內(nèi)箱容積 :91L

    1.3 溫度范圍：RT+10～+200℃ 

    1.4 溫度波動度：±2℃ ≤100℃時；±3℃ ≤150℃時；

    1.5短路保護：板上裝有速熔陶瓷保險絲，當被試器件短路時，保險絲熔斷保護。

    1.6使用范圍：各種封裝的二極管、三極管、SCR、MOSFET、IGBT等高溫反偏試驗。

    1.7試驗線路及試驗方法滿足JESD22-A108、MIL-STD-750 Method 1038及AEC Q101相關標準要求。

    1.8制熱與溫度循環(huán)系統(tǒng)：

        加熱裝置：長壽命鎳鉻合金電熱絲式加熱器

       加熱方式：無觸點等周期脈沖調(diào)寬，平衡式調(diào)溫 P.I.D + P.W.M + S.S.R

        導風板設計：可調(diào)式導風板設計,有效提升溫、濕度分布均勻性.

        循環(huán)裝置：采用防潮兼散熱設計,不銹鋼加長軸心回圈馬達

        循環(huán)風輪：耐高低溫鋁合金多翼式回圈扇輪

    出風循環(huán)：風循環(huán)方向可根據(jù)模塊的擺放方向設計，以保證試樣處于最佳溫濕度均勻區(qū)

    二、試驗能力

    2.1試驗能力:最大電壓2000V，最高試驗溫度175℃。

    2.2通道分區(qū):8個老化試驗通道，2個獨立直流電源。一組電源對應2個試驗通道，整機可同時試驗2個不同電壓規(guī)格的器件。

    2.3滿載容量:80顆/每通道×8通道＝640顆。（最大數(shù)量，具體放置數(shù)量和封裝有關）

    2.4插板骨架:材料：304不銹鋼板材料，高溫下長時間工作不生銹；整機共2個老化通道。

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