服務(wù)熱線(xiàn)
4001027270
掃描電子顯微鏡+X射線(xiàn)能譜儀(SEM+EDS)
掃描電子顯微鏡利用二次電子或背散射電子成像,對(duì)樣品表面放大一定的倍數(shù)進(jìn)行形貌觀(guān)察,最大放大倍數(shù)可達(dá)30萬(wàn)倍,同時(shí)利用電子激發(fā)出樣品表面的特征X射線(xiàn)來(lái)對(duì)微區(qū)的成分進(jìn)行定性定量分析。
測(cè)試范圍:
SEM的二次電子成像分辨率約3nm
背散射電子成像分辨率約300nm
EDS成分分析的元素范圍Be~U
分析深度約1μm
檢測(cè)下限約1%
空間分辨率約1μm
服務(wù)項(xiàng)目:
各種固體材料的形貌分析
微區(qū)化學(xué)成分檢測(cè)
樣品成分的線(xiàn)分布和面分布分析
商家資料
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