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    Bruker 光學(xué)輪廓儀

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè):

    半導(dǎo)體測試設(shè)備-表面形貌測試-表面輪廓儀

    庫       存:

    1

    產(chǎn)       地:

    美國

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價       格:

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     布魯克 (Bruker) 是表面測量和檢測技術(shù)的全球領(lǐng)導(dǎo)者,服務(wù)于科研和生產(chǎn)領(lǐng)域。新一代白光干涉儀ContourGT系列結(jié)合了先進的64位多核操作和分析處理軟件,專利技術(shù)白光干涉儀(WLI)硬件和前所未有的操作簡易性,是歷年來來最先進的3D光學(xué)表面輪廓儀系統(tǒng)。該系統(tǒng)擁有超大視野內(nèi)亞埃級至毫米級的垂直計量范圍,樣品安裝靈活,且具有業(yè)界最高的測量重復(fù)性。ContourGT系列是當(dāng)今生產(chǎn)研究和質(zhì)量控制應(yīng)用中,最廣泛使用和最直觀的3D表面計量平臺。

     

    應(yīng)用:

        對LED行業(yè)、太陽能行業(yè)、觸摸屏行業(yè)、半導(dǎo)體行業(yè)以及數(shù)據(jù)存儲行業(yè)等,提供全方位非接觸式測量方案,樣品從小至微米級別的微機電器件(MEMS),大到整個引擎部件,都可以獲得表面形貌、粗糙度、三維輪廓等精準(zhǔn)數(shù)據(jù)

     

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    提問:
     

    你這個是不是雙光源照明的?多少種分析工具?

    peert  2017-08-09

    X向光柵分辨率,零件直徑范圍多大?

    mund  2017-08-15

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    4001027270

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