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    半自動(dòng)探針臺(tái)(200 mm Semi-Auto Probe Station)

    產(chǎn)品品牌

    ADVANCED

    庫(kù)       存：

    50

    產(chǎn)       地：

    臺(tái)灣

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價(jià)       格：

    面議
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          半自動(dòng)探針臺(tái)(200 mm Semi-Auto Probe Station)

    八英電動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)

    X-Y-Z-R移動(dòng)行程分別為200mm/200mm/30mm/15degree

    X-Y-Z移動(dòng)精度1um；R：0.01degree

    機(jī)臺(tái)由PC控制，軟件可以建立wafer map

    系統(tǒng)可以根據(jù)工程人員建立的wafer map自動(dòng)點(diǎn)針

    系統(tǒng)可以搭配高倍顯微鏡和體式顯微鏡兩種光學(xué)系統(tǒng)

    光學(xué)部分搭配100萬(wàn)象素的數(shù)字CCD

    系統(tǒng)具有自動(dòng)校驗(yàn)功能

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    4001027270

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