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    包郵 關注:684

    掃描電鏡SNE-4500M

    應用于半導體行業(yè):

    半導體測試設備-顯微鏡分類-掃描顯微鏡

    產(chǎn)品品牌

    韓國賽可

    規(guī)格型號:

    SNE-4500M

    發(fā)貨期限:

    60天

    庫       存:

    1

    產(chǎn)       地:

    中國-北京市

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價       格:

    500000.00
    交易保障 擔保交易 網(wǎng)銀支付
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    品牌:韓國賽可

    型號:SNE-4500M

    所屬系列:半導體測試設備-顯微鏡分類-掃描顯微鏡

     
    技術參數(shù)
    1.  分辨率 最大分辨率5nm(30kv,SE Image)
    2.  放大倍率  20x ~ 100,000x
    3.  電壓  1kv ~ 30kv(1/5/10/15/20/30)
    4.  探測器 SE (Secondary Electron) 二次
    5.  電子槍 Tungsten Filament(cartridge)
    6.  光闌 30,50,100,200um (Variable type)4擋調節(jié)
    7.  掃描圖片像素 320×240, 640×480, 1,280×960, 2,560×1,920, 5,120x3,840
    8.  樣品臺尺寸
     
    X : 40㎜, Y : 40㎜, R : 360?Z : 0~35㎜, T : 0~45? / 5-axis
    9.  樣品尺寸(直徑/高度) 80mm / 高度35mm
    10. 真空模式  High Vacuum高空系統(tǒng) (Low Vacuum低空系統(tǒng))
    11. 真空時間 180sec(抽空), 70sec(卸空)
    12. 能譜系統(tǒng) EDAX(布魯克)(選配)

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