Quanta x50系列掃描電子顯微鏡是FEI公司最新一代的、真正的多用途掃描電鏡，是著名的Quanta產(chǎn)品家族的第三代產(chǎn)品。 
FEI 電子顯微鏡技術(shù)參數(shù)：
1.分辨率: 
二次電子: 
高真空模式 3.0nm @ 30kV, 8nm @ 3kV 
高真空減速模式 7nm @ 3kV (可選項(xiàng)) 
低真空模式 3.0nm @ 30kV, 10nm @ 3kV 
環(huán)境真空模式 3.0nm @ 30kV 
背散射電子 4.0nm @ 30kV 
2.樣品室壓力最高達(dá)2600Pa 
3.加速電壓200V ～ 30kV，連續(xù)調(diào)節(jié) 
4.樣品臺(tái)移動(dòng)范圍 
Quanta 250: X=Y=50mm 
Quanta 450: X=Y=100mm 
Quanta 650: X=Y=150mm
FEI 電子顯微鏡主要特點(diǎn)：
1.FEI ESEM(環(huán)境掃描電鏡)技術(shù), 可在高真空、低真空和環(huán)境真空條件下對(duì)各種樣品進(jìn)行觀察和分析。 
2.所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀察和微觀分析。 
3.先進(jìn)的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)平臺(tái)，全數(shù)字化系統(tǒng)。 
4.可同時(shí)安裝能譜儀、波譜儀和EBSP系統(tǒng)。 
5.可安裝低溫冷臺(tái)、加熱臺(tái)、拉伸臺(tái)等進(jìn)行樣品的原位、動(dòng)態(tài)觀察和分析。

Tecnai G²透射電子顯微鏡是FEI生產(chǎn)的新型、性能優(yōu)越的藝術(shù)級(jí)儀器。Tecnai G²運(yùn)行在Windows XP的操作系統(tǒng)下，提供了高性能和多功能, 用戶在使用方便、個(gè)性化和安全環(huán)境下可輕易獲得大量的高質(zhì)量分析成果。Tecnai G²使透射電子顯微鏡的操作比以往更方便簡捷。  
在Tecnai G²上, 所有的操作和探測系統(tǒng)(包括透射掃描附件、視頻監(jiān)視器、CCD相機(jī)、EDX能譜儀、EELS電子能量損失譜和能量過濾器)可以全部集成到一個(gè)系統(tǒng)之中, 通過一個(gè)顯示器、鼠標(biāo)和鍵盤進(jìn)行操作。
對(duì)材料特性的全面認(rèn)識(shí)是理解材料性能的基本前提。材料形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)成分、界面結(jié)構(gòu)、表面以及缺陷都對(duì)材料的性能產(chǎn)生影響。透射電子顯微鏡已經(jīng)被證實(shí)是在小到埃級(jí)尺寸研究各種普通材料和先進(jìn)材料的非常有效的技術(shù)。它能夠產(chǎn)生很多的信號(hào), 這些信號(hào)攜帶了不同類型的有用信息。Tecnai G² 20經(jīng)過特殊設(shè)計(jì)可以快速有效地采集和處理這些信號(hào)。將高分辨圖像、明場/暗場圖像、STEM圖像、電子衍射和詳細(xì)的微觀分析有機(jī)的結(jié)合起來, 使Tecnai G² 20成為材料分析研究的重要儀器。 
Tecnai G² 20可以根據(jù)不同用戶的配置要求供貨。標(biāo)準(zhǔn)型儀器提供了已被證實(shí)的多項(xiàng)先進(jìn)技術(shù): 既可得到高分辨圖像又保持高傾角(最大40°)的S-TWIN物鏡, 提供樣品精確控制和機(jī)械穩(wěn)定性優(yōu)異的CompuStage樣品臺(tái)。Tecnai G² 20可以安裝完全集成式設(shè)計(jì)的數(shù)字化的STEM(透射掃描附件)、EDX(能譜儀)和能量過濾或PEELS(能量損失譜)。這些技術(shù)可結(jié)合起來完成頻譜分布和頻譜圖像的分析工作。Tecnai G² 20為材料分析研究用戶提供了穩(wěn)定性、操作方便性和高性能的優(yōu)異組合。無論是在常規(guī)分析, 還是亞微米研究, Tecnai G² 20都能夠滿足日益增多的樣品數(shù)量。 
為滿足結(jié)構(gòu)生物學(xué)研究的需要，F(xiàn)EI公司還設(shè)計(jì)制造了配置TWIN物鏡和Cryo冷凍樣品臺(tái)的專門系統(tǒng): Tecnai G2 20 TWIN
其主要技術(shù)特點(diǎn)： 
- TWIN物鏡系統(tǒng), 點(diǎn)分辨率 0.27nm 
- 樣品最大傾角 +/- 70° 
- Cryo液氮冷凍樣品臺(tái)及冷凍轉(zhuǎn)移設(shè)備 
- 全自動(dòng)化的數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)
FEI 電子顯微鏡技術(shù)參數(shù)：
1.LaB₆燈絲或鎢燈絲 
2.點(diǎn)分辨率 
U-TWIN 0.19nm 
S-TWIN 0.24nm ; TWIN 0.27nm
3.加速電壓 20-200kV,連續(xù)可調(diào) 
4.放大倍數(shù) 25x - 1100kx 
5.樣品最大傾角: S-TWIN +/- 40° ; TWIN +/- 70°
6.計(jì)算機(jī)控制的全數(shù)字化電鏡,基于Windows XP的用戶界面
FEI 電子顯微鏡主要特點(diǎn)：
1.100%數(shù)字化系統(tǒng) 
2.FEI專利技術(shù)S-TWIN/U-TWIN物鏡 
3.CompuStage樣品臺(tái)提供高精度的樣品位置控制 
4.全連鎖的潔凈的真空系統(tǒng) 
5.可選完全集成化的各種附件, 如能譜儀、CCD相機(jī)等