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    激光全息光學檢漏系統(tǒng):NorCom2020 SF-12

    應用于半導體行業(yè):

    半導體測試設備-表面、內部檢測

    庫       存:

    100

    產       地:

    全國

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價       格:

    面議
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    品牌:

    型號:

    所屬系列:半導體測試設備-表面、內部檢測

          基于密封件漏率國際標準計算方法而設計的一款設備,利用激光全息3D 成像技術,通 過給密封件外部施加不同的壓力,實時精確的檢測工件的體積隨內外壓差的變化,并根據(jù)工 件自身的其他特性參數(shù)(如:如元器件材料剛度、空腔體積等)與形變的相關性,通過軟件 分析計算而獲得元器件的漏率數(shù)據(jù)。使用的加壓氣體可以為:空氣,氮氣,氦氣等。適合各種封裝電子元器件。

    產品特點:

    1.無損、快速、重復性好;

    2.操作簡單,對操作人員友好,環(huán)保;

    3.同時粗檢漏和細檢漏,如右表所示;

    4.報告每個器件的實際氦漏率;

    5.適合金屬、陶瓷、玻璃及組合封裝;

    6.可檢測已安裝到電路板上的元器件;

    7.可檢測吸收或發(fā)射氦氣材料的封裝件,如:光纖引線、陶瓷等;

    8.少量或批量生產檢測;既滿足小批量檢測需求,也可實現(xiàn)在線檢測,大大提升生產效率和

    質量控制水平;

    9.自動生成檢測報告

     

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