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    激光全息光學檢漏系統(tǒng):NorCom2020 SF-12

    應用于半導體行業(yè)：

    半導體測試設備-表面、內部檢測

    庫       存：

    100

    產       地：

    全國

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

    面議
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    品牌：

    型號：

    所屬系列：半導體測試設備-表面、內部檢測

          基于密封件漏率國際標準計算方法而設計的一款設備，利用激光全息3D 成像技術，通 過給密封件外部施加不同的壓力，實時精確的檢測工件的體積隨內外壓差的變化，并根據(jù)工 件自身的其他特性參數(shù)（如：如元器件材料剛度、空腔體積等）與形變的相關性，通過軟件 分析計算而獲得元器件的漏率數(shù)據(jù)。使用的加壓氣體可以為：空氣，氮氣，氦氣等。適合各種封裝電子元器件。

    產品特點：

    1.無損、快速、重復性好；

    2.操作簡單，對操作人員友好，環(huán)保；

    3.同時粗檢漏和細檢漏，如右表所示；

    4.報告每個器件的實際氦漏率；

    5.適合金屬、陶瓷、玻璃及組合封裝；

    6.可檢測已安裝到電路板上的元器件；

    7.可檢測吸收或發(fā)射氦氣材料的封裝件，如：光纖引線、陶瓷等；

    8.少量或批量生產檢測；既滿足小批量檢測需求，也可實現(xiàn)在線檢測，大大提升生產效率和

    質量控制水平；

    9.自動生成檢測報告

     

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