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    G200M，G150M和G150S激光平面干涉儀

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)：

    半導(dǎo)體測試設(shè)備-光學(xué)類測試-干涉儀

    產(chǎn)品品牌

    上海乾曜

    庫       存：

    20

    產(chǎn)       地：

    中國-上海市

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

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    品牌：上海乾曜

    型號：

    所屬系列：半導(dǎo)體測試設(shè)備-光學(xué)類測試-干涉儀

     G200M，G150M和G150S激光平面干涉儀

     G200M，G150M和G150S平面激光干涉儀為正立式結(jié)構(gòu)，通光口徑分別為200mm和150mm。
    G200M彌補了國內(nèi)使用有效口徑150mm的干涉儀測試大尺寸光學(xué)系統(tǒng)和光學(xué)元件，不能全口徑測試的不足，改善提高了大口徑光學(xué)系統(tǒng)和光學(xué)元件測試精度。
    G150M型平面干涉儀專為計量級測試的需求設(shè)計，適用于計量機構(gòu)檢定和校準光學(xué)平晶。其集高性能、長壽命氦氖激光器，1-6.7倍圖像放大功能，高精度的成像系統(tǒng)和圖像采集系統(tǒng)，精密平面標(biāo)準鏡等一系列高精技術(shù)，通過優(yōu)化光學(xué)系統(tǒng)和機械系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，實現(xiàn)高精密平面光學(xué)元件的測量。選配靜態(tài)干涉條紋分析軟件，實現(xiàn)數(shù)字化測量。
    G150S為G150M的簡化版本，適合光學(xué)車間的現(xiàn)場檢驗。
    主要用途：平面類光學(xué)元件（包括玻璃、金屬、陶瓷等）表面面形、光學(xué)平行度和材料均勻性的測試；準直系統(tǒng)波前質(zhì)量的測試。

     

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    問

    測量的數(shù)據(jù)支持保存嗎？能不能導(dǎo)出EXcel？

    balls  2017-07-18

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