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    剪切干涉儀

    應用于半導體行業(yè):

    半導體測試設備-光學類測試-干涉儀

    產(chǎn)品品牌

    上海乾曜

    庫       存:

    99

    產(chǎn)       地:

    中國-上海市

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價       格:

    面議
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    品牌:上海乾曜

    型號:

    所屬系列:半導體測試設備-光學類測試-干涉儀

     

    剪切干涉儀

     采用剪切干涉技術,簡單、直觀的檢測激光光束的平行度,可作為激光器裝調(diào)或實驗室光路調(diào)整的基準。 根據(jù)條紋相對于水平基線的旋轉角度可以計算出光束準直度;同時,通過判讀干涉條紋的形狀可以分析原始波面的波差分布。 因此,這既是激光束準直檢測儀,又是定性化的光束波前分析儀。

     

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