鍍層測厚儀是采用X射線熒光光譜分析技術(shù) 科冠電子
我們的鍍層測厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術(shù),該技術(shù)已被普遍認可并且得到廣泛應用,可以在無需樣品制備的情況下提供易于操作,快速和無損的分析??煞治龉腆w和液體,元素范圍包括從元素周期表中的14Si到92U。
MAXXI 6針對較薄而復雜的樣品,具有完美的解決方案。MAXXI 6配備多準直器系統(tǒng)及超大樣品艙,是最佳功能性與最高檢測精度兼?zhèn)涞睦硐牍ぞ摺?/p>
亮點:
- 采用微聚焦X射線光管,實現(xiàn)高精度,高可靠性,測量時間短,購置成本低
- 采用高分辨率的硅漂移探測器(SDD),提供能量級別的最佳效率,極低的檢出限(LOD)
- 多準直器可優(yōu)化不同尺寸樣品熒光信號產(chǎn)額,提高測量效率
- 開槽式超大樣品艙設計,十分適合電路板或其他超大平板樣品
- “USB接口 ”只需通過USB與計算機連接,無需額外的硬件或軟件
- 德國制造,符合最高工程標準,堅固耐用的設計可實現(xiàn)長期可靠性
- 通過PTB(Physikalisch Technische Bundesanstalt)認證,滿足最高輻射安全標準
- 最多同時測定5層,15種元素及共存元素的校正
- 同時實現(xiàn)多于25種元素的定量分析
- 檢測方法通過ISO3497,ASTM B568,DIN50987和IEC 62321等認證
- 對ROHS和貴金屬進行工廠預裝校準(可選)