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高低溫環(huán)境試驗箱用途：
高低溫環(huán)境試驗箱QQ:2850687970又稱高低溫循環(huán)試驗箱，該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標準要求或用戶自定要求，在高溫、低溫、濕熱、條件下對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
《標注價格并不是最終成交價格，歡迎電話詢價》
高低溫環(huán)境試驗箱溫濕度范圍：
溫度范圍: A:-20℃～150℃ B:-40℃～150℃ C:-60℃～150℃ D:-70℃～150℃
溫度波動度: ±0.5℃（常壓，空載）
溫度均勻度: ±2℃（常壓，空載）
溫度偏差: ±3℃（常壓，空載）
升溫速率: 1.0～3.0℃/min
降溫速率: 0.7～1.0℃/min
壓力范圍: 常壓～0.5kPa
壓力偏差: 常壓～40Kp：±1.8Kpa；40Kp～4Kpa：±4.5％；4Kp～0.5KPa：±0.1Kpa
降壓時間: ≤45min（常壓～0.5kPa）
高低溫環(huán)境試驗箱執(zhí)行標準：
GB10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB10589-2006低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10592-2006高低溫環(huán)境試驗箱技術(shù)條件
GB11158-2006高溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2001試驗A：低溫試驗方法
GB/T2423.2-2001試驗B：高溫試驗方法
GB/T2423.3-1993試驗Ca:恒定濕熱試驗
GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備
GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備
以上技術(shù)參數(shù)均在環(huán)境溫度≤25℃工作室空載條件下測取
以上為標準型試驗箱可根據(jù)用戶具體要求定做各種非標型
可根據(jù)用戶具體要求定做各種高低溫環(huán)境試驗箱
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