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4001027270
性價比最高的掃描探針顯微鏡
性能優(yōu)越 ● 原子級分辨率和穩(wěn)定度 ● 大樣品腔設(shè)計,適應(yīng)性強(qiáng) ● 主控制系統(tǒng)采用德州儀器(TI)32位高性能數(shù)字信號處理器(DSP) ● 高壓掃描驅(qū)動采用APEX集成高壓運(yùn)算放大器 ● 主控制系統(tǒng)內(nèi)置實(shí)時操作系統(tǒng) ● 系統(tǒng)采用快速以太網(wǎng)接口(Fast Ethernet)與計算機(jī)連接 |
功能強(qiáng)大 ● 原子力顯微鏡(AFM) ● 掃描隧道顯微鏡(STM) ● 橫向力/摩擦力顯微鏡(LFM) ● I-V、I-Z、力-距離等多種曲線測量分析 ● 在線實(shí)時三維圖像顯示,檢測過程可即時得到更直觀的形貌和豐富的細(xì)節(jié) ● 多通道信號同時采集和顯示,一次掃描即可同時得到樣品多種性質(zhì)與特征 ● 具有圖像及曲線數(shù)據(jù)導(dǎo)出功能,可取得全部原始數(shù)據(jù) ● 探針表征和圖像重建功能(針尖形貌估算/圖像重建/用已知探針重建圖像) |
操作簡便
● 全程全自動進(jìn)針,無需手工粗調(diào)
● 只需更換探針架,即可在STM和AFM等不同類型儀器中切換
● 全數(shù)字控制,儀器類型、系統(tǒng)狀態(tài)等參數(shù)智能識別和控制
● 軟件控制樣品移動
● 當(dāng)前全部工作環(huán)境參數(shù)和掃描圖像同步保存
● 樣品粒度和粗糙度自動分析功能,可得到國家、國際相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的全系列參數(shù)
系統(tǒng)功能 |
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原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM) 橫向力/摩擦力顯微鏡(Lateral Force Microscope, LFM) 掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope, STM) |
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分辨率 |
掃描隧道顯微鏡(STM):橫向 0.1nm, 垂直 0.01nm |
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參數(shù)性能 |
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X-Y掃描范圍:~10μm Z方向掃描范圍:~2μm 圖像分辨率:128X128, 256X256, 512X512, 1024X1024 掃描角度:0~360° 掃描頻率:0.1~100Hz |
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主控制系統(tǒng) |
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中央處理器:德州儀器(TI)32位數(shù)字信號處理器(DSP) 高速16-bit DAC 高速16-bit ADC 高壓掃描驅(qū)動:5路APEX集成高壓運(yùn)算放大器 通信接口:10M/100M快速以太網(wǎng)(Fast Ethernet 10/100)接口 |
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機(jī)械性能 |
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樣品尺寸:最大可達(dá)直徑45mm,厚度15mm 全自動步進(jìn)電機(jī)控制進(jìn)樣系統(tǒng):行程15mm,定位精度50nm/步 |
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軟件系統(tǒng) |
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基于Windows 10/8/7/Vista/XP/2000/9X的在線控制軟件和圖像處理軟件 |
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