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    bruker 原子力顯微鏡

    應用于半導體行業(yè)：

    半導體測試設備-顯微鏡分類-其他

    庫       存：

    1

    產(chǎn)       地：

    美國

    數(shù)       量：

    減少 增加

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    品牌：

    型號：

    所屬系列：半導體測試設備-顯微鏡分類-其他

     Bruker公司的AFM具有多項專利技術，以其卓越的性能廣泛應用于科研和工業(yè)界各領域

    Dimension  FastScanTM 原子力顯微鏡（Atomic  Force Microscope，AFM），在不損失Dimension®  Icon®超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下，最大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術創(chuàng)新，從根本上解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術水平的AFM用戶獲得高質(zhì)量數(shù)據(jù)的時間,是世界上掃描速度最快的原子力顯微鏡。

     

    應用：

    應用于科研和工業(yè)界各領域，涵蓋了聚合物材料表征，集成光路測量，材料力學性能表征，MEMS制造，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質(zhì)研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物傳感器，分子自組裝結(jié)構(gòu)，光盤存儲，薄膜性能表征等領域的監(jiān)測等各類科研和生產(chǎn)工作。

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    問

    是自動的還是半自動的，能不能固定成像再導出？

    caoweihuo  2017-07-11

    答

     測試過程是自動的，可以固定成像然后再導出，如要了解更進一步的消息，歡迎您來電：18811190340

    2017-08-07

    應用于半導體行業(yè)的相關同類產(chǎn)品：

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    4001027270

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