德國BRUKER 原子力顯微鏡AFM
Dimension FastScan
世界上掃描速度最快的原子力顯微鏡
掃描速度的全新詮釋，擁有最高的掃描分辨率，最優(yōu)異的儀器檢測性能
Dimension FastScanTM原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM），在不損失Dimension Icon 超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下，最大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術(shù)創(chuàng)新，從根本上解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術(shù)水平的AFM用戶獲得數(shù)據(jù)的時間。
為滿足AFM使用者對提高AFM使用效率的需求，Bruker開發(fā)了這套快速掃描系統(tǒng)，不降低分辨力，不增加設(shè)備復(fù)雜性，不影響儀器操作成本的前提下，幫助用戶實現(xiàn)了利Dimension快速掃描系統(tǒng)，即時快速得到高分辨高質(zhì)量AFM圖像的愿望。當您對樣品進行掃描時，無論設(shè)置實驗參數(shù)為掃描速度> 125Hz，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得1張AFM圖像，都能得到優(yōu)異的高分辨圖像?？焖賿呙柽@一變革性的技術(shù)創(chuàng)新重新定義了AFM儀器的操作和功能。
高效率
· 在空氣或液體中成像速度是原來速度的100倍，自動激光調(diào)節(jié) 和檢測器調(diào)節(jié)，智能進針，大大縮短了實驗時間。
· 自動測量軟件和高速掃描系統(tǒng)完美結(jié)合，大幅提高了實驗數(shù)據(jù) 的可信度和可重復(fù)性。
高分辨率
· Fastscan精確的力控制模式提高圖像分辨率的同時，延長了探針的使用壽命。
· 掃描速度20Hz時仍能獲得高質(zhì)量的TappingModeTM圖像，掃描速度6Hz仍能獲得高質(zhì)量的ScanAsyst圖像。
· 低噪音，溫度補償傳感器展現(xiàn)出亞埃級的噪音水平。
· 在任何樣品上均有卓越表現(xiàn)
· 閉環(huán)控制的Icon和FastScan的掃描管極大地降低了Z方向噪音，使它們Z方向的噪音水平分別低于30pm和40 pm，具有超低的熱漂移率，可得到超高分辨的真實圖像。
· Fast Scan可以對不同樣品進行測量，保證高度從埃級到100多納米的樣品高精度無失真掃描。
??了重大突破。
■更高的帶寬提供了精確的力控制和高掃描速度，結(jié)合高精度的閉環(huán)控制，在效率上遠遠高于其它任何商業(yè)化的AFM。
■以20Hz掃描速度進行TappingMode成像得到的圖片的分辨率和以1Hz掃描速度得到的圖片的分辨率一樣高，即使使用更高的掃描速度>100Hz,圖像分辨率同樣不會降低。
■在ScanAsyst模式中，使用6Hz的掃描速度可以得到高分辨率的圖片，即使掃描速度達到32Hz同樣可以得到普通分辨率的圖片。
■Z方向，探針在Contact模式中移動速度可達到12mm/s，同時在閉環(huán)工作中X-Y方向的移動速度達到2.5mm/s， X-Y方向的跟蹤誤差<1%，真正使Fastscan成為了世界上第一臺快速掃描AFM。
■ 自動的激光和檢測器的調(diào)節(jié)使得實驗的組建更為快速有效。
■ 系統(tǒng)使用自帶的樣品導(dǎo)航軟件MIRO，利用光學(xué)成像系統(tǒng)能夠在幾分鐘之內(nèi)分辨并抓取納米級的樣品特征。
最新的光學(xué)系統(tǒng)可以使用任何Bruker的探針，在不降低系統(tǒng)穩(wěn)定性的前提下，得到最好的激光信號調(diào)節(jié)。
■ 針尖掃描系統(tǒng)的設(shè)計與210mm大尺寸樣品臺結(jié)合，消除了樣品尺寸的限制，同時維持了最低的噪音和熱漂移水平。
AFM終極性能
Dimension FastScan AFM 優(yōu)秀的分辨率，與Bruker特有的電子掃描計算方法相結(jié)合，提供給用戶顯著提升的測量速度與質(zhì)量。Dimension Icon是我們工業(yè)領(lǐng)先的針尖掃描技術(shù)的最新革新，配置了溫度補償位置傳感器，展現(xiàn)出Z軸亞埃級范圍和XY軸埃級范圍的噪音水平，這個驚人的性能出現(xiàn)在大樣品臺，34微米和90微米的掃描范圍的系統(tǒng)上，尤勝高分辨率原子力顯微鏡的開環(huán)噪音水平。XYZ閉環(huán)掃描頭的新設(shè)計也能展現(xiàn)較高掃描速度，而不損壞圖像質(zhì)量，實現(xiàn)更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。Icon 掃描管比當今市場上任何一款大樣品臺AFM具有更低的噪音水平和更高的精確度。這種革新與新的專利掃描和下針算法相結(jié)合，即使是在難測量的樣品上也能得到更高的圖像保真效果。
杰出的生產(chǎn)力
使用Dimension系列原子力顯微鏡發(fā)表的文章遠比其他大樣品臺原子力顯微鏡要多。在科研和工業(yè)生產(chǎn)的過程研究中已成為一個標志性的符號。FastScan把此平臺引入了更卓越的新水平，展現(xiàn)出更高的性能和更快地獲得測量結(jié)果。其軟件的直觀工作流程，使其操作過程比以往最先進的AFM技術(shù)更加簡便?？梢允钩鯇W(xué)者在操作中，同樣得到專家級的圖像。Dimension FastScan用戶可以立即獲得高質(zhì)量的結(jié)果，而無需像以前一樣通常需要幾小時的專業(yè)調(diào)整。Dimension FastScan的每個方面—從完全開放式針尖樣品空間，到預(yù)存軟件參數(shù)設(shè)置—都經(jīng)過特殊設(shè)計以求達到無障礙操作和驚人的AFM操作簡易性。每分鐘低于200pm的熱漂移速率，全新的直觀用戶界面，世界聞名的Dimension AFM平臺，三者結(jié)合提供了無與倫比的AFM儀器性能，保證您在最短時間內(nèi)得到測試結(jié)果并發(fā)表出版。
世界上最靈活的平臺
Dimension FastScan 展現(xiàn)出的無與倫比的性能，堅固性和靈活度，使得這臺儀器實現(xiàn)了以前只有在特制的系統(tǒng)中才能完成的所有測量。利用開放式平臺，大型多元樣品支架和許多簡單易用的性能，將AFM強大的功能完全展現(xiàn)在科研領(lǐng)域和工業(yè)領(lǐng)域的研究者面前，為高質(zhì)量AFM 成像和納米研究設(shè)定了新的標準。Dimension 系列原子力顯微鏡在不斷演變提升，以迎合您不斷增長的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力學(xué)、電學(xué)和電化學(xué)附件。
無與倫比的性能和多種附加模塊滿足您的一切科研需要
出眾的性能滿足各種應(yīng)用需求
Dimension FastScan可同時高速捕捉多個通道的數(shù)據(jù)，獲得更多通道的高質(zhì)量數(shù)據(jù)。結(jié)合我們Bruker的很多AFM專利技術(shù)，模式和模式增強功能，Dimension FastScan以其獨特的性能優(yōu)勢，幫助您完成更高水平的納米研究。
材料成像
FastScan在使用ICON的掃描管的情況下支持Bruker的專利PeakForce QNMTM成像模式，在使用快速掃描掃描
管的情況下可進行納米力學(xué)成像。使用FastScan技術(shù)，大大減少了研究者獲得高分辨率形貌和納米力學(xué)圖譜的時間。
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納米操縱
可實現(xiàn)在納米和分子級別的納米操縱和刻蝕。FastScan的XYZ閉環(huán)掃描器解決了掃描管的蠕變效應(yīng)，大大提高了操縱的精確度。同時超低噪音的精密探針的準確定位，適用于任何納米操作系統(tǒng)。
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加熱和冷卻
在以各種AFM 模式掃描的同時可實現(xiàn)-35℃到250℃的溫度的精確控制和熱分析。另外還可使用熱探針對低于100nm的局部加熱到500℃。
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電學(xué)表征
使用專利的模式，可以在更高的靈敏度和更大的動態(tài)范圍上實現(xiàn)電學(xué)表征。PeakForce TUNA™和PeakForce SSRM提供了獨特的電學(xué)表征方法，同時還可以與樣品上的力學(xué)屬性相聯(lián)系。
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利用最短時間獲得高質(zhì)量可發(fā)表數(shù)據(jù)結(jié)果
無論是作為科研交流還是發(fā)表科學(xué)文章，Dimension FastScan可比以前快幾十倍至上百倍獲得專業(yè)精確的數(shù)據(jù)測量和高質(zhì)量AFM圖片。真正的快速掃描AFM系統(tǒng)使您能夠運用簡易方法對大量數(shù)據(jù)進行快速準確的處理分析。
樣品篩選
利用AFM系統(tǒng)獲取大量樣品信，進行樣品常規(guī)篩選。無論是材料生產(chǎn)中進行失效分析或納米級的質(zhì)量控制，及時的產(chǎn)品信息反饋是必不可少的產(chǎn)品質(zhì)量控制過程。納米表征面臨提高表征速度的挑戰(zhàn)時，高精準度成為必備條件。在獲取藥物配方的過程中需要大量的數(shù)據(jù)對其中的非晶藥物成分進行篩選，這可能成為FastScan的一個新用途。
動態(tài)應(yīng)用范例
另一種常見的應(yīng)用是觀察一個納米級物體在外部條件變化或受刺激的情況下，隨著時間產(chǎn)生變化的過程。無論是在空氣中還是在液體中，對納米尺度的動態(tài)變化觀察都是極具研究價值的。Dimesion FastScan為這種實驗提供了極為便利的條件。
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