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    包郵 關注:1109

    接觸式測厚儀

    應用于半導體行業(yè):

    半導體測試設備-測厚設備-接觸式測厚儀

    規(guī)格型號:

    CGG1

    發(fā)貨期限:

    1個月天

    庫       存:

    1

    產(chǎn)       地:

    英國

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價       格:

    100000.00
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    品牌:

    型號:CGG1

    所屬系列:半導體測試設備-測厚設備-接觸式測厚儀

    詳細描述:用于測量晶圓各個點的厚度,根據(jù)各點的厚度結果可以用來判斷晶圓產(chǎn)品的平整度,片內厚度差TTV是否符合要求

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