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    手動探針臺probe station探針測試儀

    應用于半導體行業(yè)：

    半導體測試設備-電學性能測試-手動探針臺

    產(chǎn)品品牌

    ADVANCED

    庫       存：

    80

    產(chǎn)       地：

    全國

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

    面議
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    品牌：ADVANCED

    型號：

    所屬系列：半導體測試設備-電學性能測試-手動探針臺


     在集成電路的研發(fā)、生產(chǎn)制造、實效分析過程中，經(jīng)常要量測內(nèi)部的電參數(shù)，由于制成的越來越低，沒有辦法用簡單的萬用表、示波器的表筆來探測信號。手動分析探針臺能很好的幫助工程人員實現(xiàn)微小位置的電學參數(shù)測試。Advanced在中國推出手動分析探針臺近10年歷史，銷售實績120多臺，并且以每年30多臺的銷量穩(wěn)居行業(yè)銷量榜首。行業(yè)知名客戶有：友達光電、華映光電、奇美光電、群創(chuàng)光電、飛兆半導體、德州儀器、華虹集成、華為、電子五所、航天808所、航天201所、中科院微電子所、蘇州中科院納米研究所、復旦大學、上海交通大學、西安電子科技大學、溫州大學、福州大學、廈門大學等等……

    型號：   PW-400                              
    規(guī)格：
    chuck尺寸100mm
    X,Y移動行程100mm
    chuck Z軸方向升降10mm（選項）
    搭配AEC實體顯微鏡
    針座擺放個數(shù)2～4顆
    適用領域：4寸Wafer，如晶圓廠、LED、學術(shù)單位等

    型號：   PW-600/PW-800

    規(guī)格：
    chuck尺寸150mm（200mm）
    X,Y電動移動行程150mm（200mm）
    chuck粗調(diào)升降8mm，微調(diào)升降25mm
    可搭配MOTIC金相顯微鏡或者AEC實體顯微鏡
    針座擺放個數(shù)6～8顆
    顯微鏡X-Y-Z移動范圍2“x2”x2“
    可搭配Probe card測試
    適用領域：6寸/8寸Wafer、IC測試之產(chǎn)品
     
     RF高頻探針臺

          

    東、南、西、北測試臂
    搭配美國GGB高頻測試頭
    DC~10/40/50/67GHZ （GSG,GS,SG）
    Pitch 100～1500um
    探針材料：BeCu/Tungsten

     

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