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    MPI 手動直流/射頻探針臺

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè):

    半導(dǎo)體測試設(shè)備-電學(xué)性能測試-手動探針臺

    庫       存:

    10

    產(chǎn)       地:

    臺灣

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價       格:

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    MPI 手動直流/射頻探針臺


    MPI TS150、TS200、TS300每一款都包含許多令人興奮的功能, 使日常操作更簡單、直觀、方便, 同時確保了高精度測量。




    Unique Platen Lift with Probe Hover Control 具有探頭懸停控制的獨特控制技術(shù)

    測量精度首先取決于接觸質(zhì)量。高度可精準重復(fù)的 (1 um精度) 針座臺設(shè)計與三個獨立的檔位劃分:接觸(0μm)、分離 (300 um) 和載片 (3 um) 與安全鎖設(shè)計是目前市面上絕無僅有的功能。這些功能防止意外損壞探針或晶圓, 同時提供直觀的控制和準確的接觸定位,這種能力在高頻和大功率應(yīng)用中尤其重要, 以達到最準確的測量結(jié)果。

    對于 TS200 和 TS300,還可以額外提供帶有懸停高度 (50,100 或 150 um)的裝置, 可輕松方便地使探針與待測樣品電極對齊。



    Height Adjustment Scale 高度精調(diào)設(shè)計

    針座臺有25mm 的精細高度調(diào)整, 可以應(yīng)對各種應(yīng)用. 1mm 精確刻度給出了探針離開樣品的直接位置反饋。




    Compact and Rigid Platen Design 緊湊、靈活的針座臺

    緊湊、靈活的針座臺可容納多達10組直流或4組射頻針座,可滿足各種應(yīng)用要求。



    Various Chuck Potions 豐富的樣品臺規(guī)格選擇

    手動系統(tǒng)可用各種卡盤選項來滿足不同的預(yù)算和應(yīng)用要求. 卡盤選項包括 MPI 的同軸或三軸樣品臺或各種ERS高低溫卡盤, 以支持高達300度的溫度測量。
    并包含無縫集成的加熱臺控制器, 方便快捷的閱覽和操作。


     

    Auxiliary Chucks 輔助卡盤

    射頻卡盤還包括兩個內(nèi)置的陶瓷材料做成的輔助卡盤, 用于精確的射頻校準。




    Various Optic and movement Choices 多樣的顯微鏡選擇

    提供多種光學(xué)顯微鏡的選擇,包括所有常見的體式顯微鏡、單筒金相顯微鏡、金相顯微鏡或負載牽引配置。




    Optic Tilting 顯微鏡傾斜功能

    顯微鏡可以進行90度的傾斜, 并且是氣動驅(qū)動, 加上Z 軸方向上的精調(diào)功能,可以提供非常方便的扎針和更容易的探針更換。



    Vibration Isolation Platform 內(nèi)置隔振平臺

    所有的手動系統(tǒng)包括吸振基座, 以實現(xiàn)穩(wěn)定可靠的探針與樣品的長時間接觸, 確??煽康臏y量結(jié)果. 隔振平臺或工作臺可選配不同的型號,以滿足實驗室環(huán)境需要。



    Dark Box 屏蔽箱

    可用的屏蔽選項為超低噪聲直流測量提供了 EMI 光電磁屏蔽環(huán)境。



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