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    緊湊經(jīng)濟型手動探針臺HMP-400 4’’探針臺 HMP-600 6’’探針臺

    應用于半導體行業(yè):

    半導體測試設備-電學性能測試-手動探針臺

    庫       存:

    100

    產(chǎn)       地:

    中國-上海市

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價       格:

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    品牌:

    型號:

    所屬系列:半導體測試設備-電學性能測試-手動探針臺

    緊湊經(jīng)濟型手動探針臺
     
    HMP-400   4’’探針臺
    HMP-600   6’’探針臺
    這個緊湊的手動探針臺針對于小的晶圓從4’’到6’’。探針可測量超低電流到fA兩級和pF低電容選項。
    高溫測量采用高溫臺,溫度從室溫到300℃。
     
    應用:
     
    超低信號I-V測量(fA級)
    各種C-V測量(準靜態(tài)C-V, HF-CV
    4電阻測量
    擴展應用:
    溫度范圍:室溫到200/300
    加裝手套箱
    支持探卡
    RF測量(最高67GHz
    超高速I-V測量
    高功率元器件測量(100A脈沖,+/-3kV三軸,+/-10kV同軸)
    光電子光接收/發(fā)散特性應用(LEDLD,VCSELPD

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