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    高頻去耦合反應(yīng)離子刻蝕設(shè)備 Primo D-RIE

    產(chǎn)品品牌

    中微

    庫(kù)       存:

    10000

    產(chǎn)       地:

    中國(guó)-上海市

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價(jià)       格:

    面議
    交易保障 擔(dān)保交易 網(wǎng)銀支付
     

    中微自主研發(fā)的300毫米甚高頻去耦合反應(yīng)離子刻蝕設(shè)備可以用于加工64/45/28納米氧化硅(SiO),氮化硅(SiN)及低介電系數(shù)(low K)膜層等不同電介質(zhì)材料。

    高生產(chǎn)率、高性能的小批量多反應(yīng)器系統(tǒng)可以靈活地裝置多達(dá)三個(gè)雙反應(yīng)臺(tái)反應(yīng)器,以達(dá)到最佳芯片加工輸出量。每個(gè)反應(yīng)器都可以實(shí)現(xiàn)單芯片或雙芯片加工。該設(shè)備具有獨(dú)特的專(zhuān)利創(chuàng)新技術(shù),包括甚高頻和低頻混合射頻去耦合反應(yīng)離子刻蝕的等離子體源,等離子隔離環(huán)及碳化硅噴淋頭設(shè)計(jì)等。

     

    系統(tǒng)特點(diǎn)及技術(shù)優(yōu)勢(shì)

    去耦合反應(yīng)離子刻蝕和穩(wěn)定的射頻系統(tǒng)設(shè)計(jì),提供了對(duì)離子濃度和離子能量的分別控制,也達(dá)到了有效的關(guān)鍵尺度控制

    獨(dú)特的射頻輸入和對(duì)稱(chēng)分布可對(duì)刻蝕過(guò)程和芯片內(nèi)刻蝕均勻度達(dá)到精密控制

    具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的雙重等離子體聚焦使刻蝕過(guò)程更為穩(wěn)定和可靠,并使雜質(zhì)微粒數(shù)降到最低

    每個(gè)反應(yīng)臺(tái)獨(dú)立的射頻發(fā)生器,各反應(yīng)臺(tái)均勻度的分別控制和刻蝕終點(diǎn)控制,使得每片晶圓可以在獨(dú)立的反應(yīng)環(huán)境中被刻蝕處理,達(dá)到最佳結(jié)果。這是業(yè)界第一次在同一機(jī)臺(tái)上實(shí)現(xiàn)單芯片或雙芯片加工隨意轉(zhuǎn)換成為可能

    雙射頻的下電極輸入提供了穩(wěn)定,可靠的等離子體濃度和離子能量, 從而使刻蝕過(guò)程穩(wěn)定,可重復(fù),并且使各反應(yīng)臺(tái)加工結(jié)果一致

    擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán),具有快速,穩(wěn)定,可靠的調(diào)諧能力自隔離射頻匹配裝置

    反應(yīng)室內(nèi)壁選用高純度,耐等離子體特殊材料。開(kāi)發(fā)最佳的材料加工過(guò)程,大大降低損耗。將雜質(zhì)微粒數(shù)降到最低

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