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    包郵 關(guān)注:768

    全自動(dòng)探針臺(tái)

    產(chǎn)品品牌

    siradar

    規(guī)格型號(hào):

    FAPS1500/FAPS2000

    發(fā)貨期限:

    30天天

    庫(kù)       存:

    50

    產(chǎn)       地:

    中國(guó)-四川省

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價(jià)       格:

    200000.00
    交易保障 擔(dān)保交易 網(wǎng)銀支付

    品牌:siradar

    型號(hào):FAPS1500/FAPS2000

    所屬系列:半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備-電學(xué)性能測(cè)試-全自動(dòng)探針臺(tái)

     應(yīng)用方向:PD/APD芯片篩選測(cè)試,GaAs射頻芯片S參數(shù)測(cè)試,MEMS晶圓管芯篩選測(cè)試等。
     
    APS-2000半自動(dòng)測(cè)試探針臺(tái)針對(duì)8英寸晶圓片測(cè)試而設(shè)計(jì)的一體化在片測(cè)試解決方案,同時(shí)可提供射頻微波、高壓大電流測(cè)量能力。探針臺(tái)載片臺(tái)平面采用鋁合金鍍金保證測(cè)試過(guò)程中的低接觸電阻、超薄晶圓片處理和功率耗散,同時(shí)提供低漏電噪聲的保護(hù)及屏蔽環(huán)境。為了保證高壓測(cè)試的人身安全,APS-2000探針臺(tái)采用了安全互鎖系統(tǒng)機(jī)構(gòu)和測(cè)試系統(tǒng)級(jí)聯(lián)。    
     
    AutoMap探針臺(tái)控制軟件簡(jiǎn)單直觀控制載片臺(tái)XYZ三向的步進(jìn)移動(dòng),wafer圖形分布描述,芯片圖像對(duì)準(zhǔn),坐標(biāo)定位等功能,同時(shí)配置經(jīng)典的四向迷你位置操作鍵盤(pán)。
     
    ATE2.0晶圓參數(shù)自動(dòng)化測(cè)試軟件可控制多種測(cè)試儀器,包括半導(dǎo)體參數(shù)分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、阻抗分析儀等,支持TPS200、APS-1500、FAPS-1500自動(dòng)化測(cè)試探針臺(tái),實(shí)現(xiàn)晶圓在片的自動(dòng)化批量篩選測(cè)試。
     
    主要功能:
    WaferMap圖描述:采用工業(yè)相機(jī),通過(guò)圖像算法實(shí)時(shí)掃描Wafer并對(duì)Die進(jìn)行對(duì)準(zhǔn)
    Chuck控制:AutoMap軟件或經(jīng)典鍵盤(pán)多向操控Chuck移動(dòng)
    Wafer圖形模式:圓形、陣列、環(huán)形、探邊多種形式式,可自定義學(xué)習(xí)模式。
    Die坐標(biāo)查詢:實(shí)時(shí)顯示更新Die相對(duì)坐標(biāo)
    打點(diǎn)方式:噴墨,離線打點(diǎn)、異步打點(diǎn)
    測(cè)試接口:TTL電平、RS232、GPIB、以太網(wǎng)
    支持探針:直流鎢探針、RF探針、高壓探針,大電流探針
    支持儀器:Keysight 源表、網(wǎng)絡(luò)分析儀、LCR表;Keithley 2400,6487,2600B等
    支持軟件:ATE2.0參數(shù)測(cè)試軟件

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