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    自動(dòng)掃描四探針測(cè)試儀 上海載德半導(dǎo)體

    庫(kù)       存：

    100

    產(chǎn)       地：

    全國(guó)

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價(jià)       格：

    面議
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    自動(dòng)掃描四探針測(cè)試儀 上海載德半導(dǎo)體

    技術(shù)規(guī)格：

    1. 面電阻量測(cè)范圍： 1 mΩ/sq. to 2 MΩ/sq.(或更高)

    2. 樣品尺寸：支持10mm至300mm wafer

    3. 量測(cè)系統(tǒng)包括：Jandel RM3000測(cè)試單元

    4. 測(cè)試精度：0.05% at 23℃

    5. 溫度可變范圍：-100℃ ~ 200℃

    6. 軟件操作簡(jiǎn)單可以支持with Windows XP, Windows 7 或Windows 8操作系統(tǒng)，USB2.0 或USB3.0接口

    7. 可選擇量測(cè)晶圓上1, 5, 9, 25, 49, or 121個(gè)測(cè)試點(diǎn)或者自定義量測(cè)圖

    8. 可繪制2D和3D數(shù)據(jù)結(jié)果圖

    9. 輸出電阻，電阻率和厚度等量測(cè)結(jié)果

    10. 系統(tǒng)支持JANDEL探測(cè)頭，插入式更換，操作簡(jiǎn)單

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