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    包郵 關(guān)注:671

    Bruker 臺(tái)階儀

    規(guī)格型號(hào):

    Dektak XT

    發(fā)貨期限:

    三個(gè)月天

    庫(kù)       存:

    1

    產(chǎn)       地:

    美國(guó)

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價(jià)       格:

    面議
    交易保障 擔(dān)保交易 網(wǎng)銀支付

    品牌:

    型號(hào):Dektak XT

    所屬系列:半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備-表面形貌測(cè)試-臺(tái)階儀

     布魯克 (Bruker) 是表面測(cè)量和檢測(cè)技術(shù)的全球領(lǐng)導(dǎo)者,服務(wù)于科研和生產(chǎn)領(lǐng)域。布魯克DektakXT (探針式表面輪廓儀)設(shè)計(jì)創(chuàng)新,實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率,垂直高度重復(fù)性<5Å。這一里程碑式的產(chǎn)品源自于Dektak系列占據(jù)業(yè)界領(lǐng)先地位長(zhǎng)達(dá)四十年的優(yōu)異表面測(cè)量技術(shù),實(shí)現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測(cè)量。

     

    應(yīng)用:

    納米尺度的表面輪廓測(cè)量、薄膜厚度測(cè)量、表面形貌測(cè)量、應(yīng)力測(cè)量和平整度等精密測(cè)量,應(yīng)用于微電子、半導(dǎo)體、太陽(yáng)能、高亮度LED、觸摸屏、醫(yī)療、科學(xué)研究和材料科學(xué)領(lǐng)域

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